অনুসন্ধান ফলাফলগুলি - Neděla V.
- প্রদর্শন 1 - 3 ফলাফল এর 3
-
1
The Impact of Critical Flow on the Primary Electron Beam Passage through Differentially Pumped Chamber
অন্যান্য লেখক:ডাক সংখ্যা: লোডিং…The Impact of Critical Flow on the Primary Electron Beam Passage through Differentially Pumped Chamber
অবস্থিত: লোডিং…
গ্রন্থ -
2
Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope
অন্যান্য লেখক:ডাক সংখ্যা: লোডিং…Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope
অবস্থিত: লোডিং…
গ্রন্থ -
3
Analysis of Gas Flow in a Secondary Electron Scintillation Detector for ESEM with a New System of Pressure Limiting Apertures
অন্যান্য লেখক:ডাক সংখ্যা: লোডিং…Analysis of Gas Flow in a Secondary Electron Scintillation Detector for ESEM with a New System of Pressure Limiting Apertures
অবস্থিত: লোডিং…
গ্রন্থ
অনুসন্ধান সাধনীগুলি:
সম্পর্কিত বিষয়
Electron microscopy
Microscopia electrn̤ica
Alta presin̤
CAE
High pressure
SolidWorks
Ansys
Apertura
Aperture
CFD
Cinťica
Cm̀ara de bombeo diferencial39-46
Cosmos
Detector de centelleo de electrones
Differentially Pumped Chamber
Digital computer simulation
Dinm̀ica de fluidos
EREM
ESEM
Espectrometra̕ de rayos gamma
FEI
Fluid dynamics
Fluid mechanics
Gamma ray spectrometry
Gamma rays
Kinetics
Laval nozzle
Mach number
Mecǹica de fluidos
Rayos gamma