"Porque Cerca Está el Día de YHWH" ; Estudios en escatología

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Rodríguez, Alvaro F. (Editor), Graf, Roy E. (Editor)
Formato: Libro
Lenguaje:español
Publicado: Lima, Perú Universidad Peruana Unión, Facultad de Teología, Ediciones Theologika 2018
Edición:primera edición
Materias:
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Descripción
Descripción Física:XX, 298 páginas cuadros, tablas 23 cm
Bibliografía:índice
ISBN:978-9972-604-63-8