"Porque Cerca Está el Día de YHWH" ; Estudios en escatología

"Porque Cerca Está el Día de YHWH" ; Estudios en escatología

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Bibliographic Details
Other Authors: Rodríguez, Alvaro F. (Editor), Graf, Roy E. (Editor)
Format: Book
Language:Spanish
Published: Lima, Perú Universidad Peruana Unión, Facultad de Teología, Ediciones Theologika 2018
Edition:primera edición
Subjects:
ESCATOLOGÍA
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