García Méndez, M. (2008). Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) fabricadas por la técnica de erosión iónica. Universidad Autónoma de Nuevo León, Secretaría Académica.
Tohutoru Kātū ChicagoGarcía Méndez, Manuel. Caracterización De Películas Delgadas De Nitruro De Aluminio (AlN) Fabricadas Por La Técnica De Erosión Iónica. [Monterrey, N.L.]: Universidad Autónoma de Nuevo León, Secretaría Académica, 2008.
Tohutoro MLAGarcía Méndez, Manuel. Caracterización De Películas Delgadas De Nitruro De Aluminio (AlN) Fabricadas Por La Técnica De Erosión Iónica. Universidad Autónoma de Nuevo León, Secretaría Académica, 2008.
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