Tohutoro APA (7th ed.)

Bustos Rodríguez, H., Oyola Lozano, D., & Rojas Martínez, Y. A. (2024). Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales. Sello editorial Universidad del Tolima.

Tohutoru Kātū Chicago

Bustos Rodríguez, Humberto, Dagoberto Oyola Lozano, me Yebrail Antonio Rojas Martínez. Uso De Microscopía Óptica, Espectrometría Mössbauer, Difracción De Rayos X, SIMS Y LAM-ICP-ms Para La Caracterización De Muestras Minerales. Ibagué: Sello editorial Universidad del Tolima, 2024.

Tohutoro MLA

Bustos Rodríguez, Humberto, et al. Uso De Microscopía Óptica, Espectrometría Mössbauer, Difracción De Rayos X, SIMS Y LAM-ICP-ms Para La Caracterización De Muestras Minerales. Sello editorial Universidad del Tolima, 2024.