$Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /$

Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /

Guardat en:

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Bustos Rodríguez, Humberto (autor.)
Altres autors:	Oyola Lozano, Dagoberto (autor.), Rojas Martínez, Yebrail Antonio (autor.)
Format:	eBook
Idioma:	espanyol
Publicat:	Ibagué : Sello editorial Universidad del Tolima, 2024.
Matèries:	Libros electrónicos. Ciencia. Mineralogía > Análisis. Microscopía. Espectrometría. Difracción de rayos X.
Accés en línia:	https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/284052
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