Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /
Збережено в:
| Автор: | Bustos Rodríguez, Humberto (autor.) |
|---|---|
| Інші автори: | Oyola Lozano, Dagoberto (autor.), Rojas Martínez, Yebrail Antonio (autor.) |
| Формат: | eКнига |
| Мова: | Іспанська |
| Опубліковано: |
Ibagué :
Sello editorial Universidad del Tolima,
2024.
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/284052 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
Схожі ресурси
-
Estudio de goethitas niquelíferas sintéticas /
за авторством: Cordeiro, A.
Опубліковано: (1997) -
Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos /
за авторством: González Mancera, Guillermina
Опубліковано: (2023) -
Espectrometría de masas : interpretación de espectros /
за авторством: Insuasty Obando, Braulio
Опубліковано: (2022) -
Microscopía confocal
за авторством: Pucciarelli, Mariana
Опубліковано: (2009) -
Las nuevas microscopías : herramientas para la exploración del nanomundo /
за авторством: Alché Ramírez, Juan de Dios
Опубліковано: (2024)