Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , |
| التنسيق: | كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإسبانية |
| منشور في: |
Ibagué :
Sello editorial Universidad del Tolima,
2024.
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/284052 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!