Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | , |
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিন গ্রন্থ |
| ভাষা: | স্প্যানিশ |
| প্রকাশিত: |
Ibagué :
Sello editorial Universidad del Tolima,
2024.
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/284052 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
প্রথমজন হিসাবে মন্তব্য করুন!