Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | , |
| Médium: | E-kniha |
| Jazyk: | španělština |
| Vydáno: |
Ibagué :
Sello editorial Universidad del Tolima,
2024.
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/284052 |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!