Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Diğer Yazarlar: | , |
| Materyal Türü: | Ekitap |
| Dil: | İspanyolca |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Ibagué :
Sello editorial Universidad del Tolima,
2024.
|
| Konular: | |
| Online Erişim: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/284052 |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
İlk yorumlayan siz olun!