Rueda P., J. E., & Lasprilla, M. C. (2006). Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos. Universidad de Pamplona.
Chicago-čujuhus (17. p.)Rueda P., J. E., juo M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Pamplona, Colombia: Universidad de Pamplona, 2006.
MLA-čujuhus (9. p.)Rueda P., J. E., juo M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Universidad de Pamplona, 2006.
Muitte dárkkistit čujuhemiid riektatvuođa, ovdal go geavahat daid iežat deavsttas.