Rueda P., J. E., & Lasprilla, M. C. (2006). Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos. Universidad de Pamplona.
Chicago-referens (17:e uppl.)Rueda P., J. E., och M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Pamplona, Colombia: Universidad de Pamplona, 2006.
MLA-referens (9:e uppl.)Rueda P., J. E., och M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Universidad de Pamplona, 2006.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.