Стиль цитування APA (7-ме видання)

Rueda P., J. E., & Lasprilla, M. C. (2006). Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos. Universidad de Pamplona.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Rueda P., J. E., та M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Pamplona, Colombia: Universidad de Pamplona, 2006.

Стиль цитування MLA (9-ме видання)

Rueda P., J. E., та M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Universidad de Pamplona, 2006.