Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Другие авторы: | |
| Формат: | Статья |
| Язык: | испанский |
| Опубликовано: |
Pamplona, Colombia :
Universidad de Pamplona,
2006.
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/5429 |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Опубликовано: | Vol. 4, No. 1(2006)- |
|---|---|
| Объем: | 10-16 p. |
| Частота публикаций: | Semestral |
| ISSN: | 0120-4211 |