Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Rueda P., J. E.
Autor Corporativo: e-libro, Corp
Otros Autores: Lasprilla, M. C.
Formato: Artículo
Lenguaje:español
Publicado: Pamplona, Colombia : Universidad de Pamplona, 2006.
Materias:
Acceso en línea:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/5429
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!