Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Rueda P., J. E.
Autor Corporativo: e-libro, Corp
Outros Autores: Lasprilla, M. C.
Formato: Artigo
Idioma:espanhol
Publicado em: Pamplona, Colombia : Universidad de Pamplona, 2006.
Assuntos:
Science. > Physics.
Ciencias. > Física.
Science. > optics.
Ciencias. > óptica.
Artículos electrónicos.
Acesso em linha:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/5429
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