Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

Furkejuvvon:
Bibliográfalaš dieđut
Váldodahkki: Rueda P., J. E.
Searvvušdahkki: e-libro, Corp
Eará dahkkit: Lasprilla, M. C.
Materiálatiipa: Artihkal
Giella:espánnjágiella
Almmustuhtton: Pamplona, Colombia : Universidad de Pamplona, 2006.
Fáttát:
Liŋkkat:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/5429
Fáddágilkorat: Lasit fáddágilkoriid
Eai fáddágilkorat, Lasit vuosttaš fáddágilkora!

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