Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Rueda P., J. E.
מחבר תאגידי: e-libro, Corp
מחברים אחרים: Lasprilla, M. C.
פורמט: Article
שפה:ספרדית
יצא לאור: Pamplona, Colombia : Universidad de Pamplona, 2006.
נושאים:
גישה מקוונת:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/5429
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!