Diagnóstico de fallos en procesos industriales empleando técnicas de aprendizaje basadas en métodos kernel /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Bernal de Lázaro, José M.
Άλλοι συγγραφείς: Llanes Santiago, Orestes (tutor.), Prieto Moreno, Alberto (tutor.), Silva Neto, Antonio José da (tutor.)
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Ισπανικά
Έκδοση: La Habana : Editorial Universitaria, 2016.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/86721
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:Tesis (Doctor en Ciencias Técnicas)--Instituto Superior Politécnico José Antonio Echeverría, 2016.
Φυσική περιγραφή:1 recurso en línea (x, 121 páginas) : ilustraciones
Βιβλιογραφία:Contiene bibliografía.