Diagnóstico de fallos en procesos industriales empleando técnicas de aprendizaje basadas en métodos kernel /
I tiakina i:
| Kaituhi matua: | |
|---|---|
| Ētahi atu kaituhi: | , , |
| Hōputu: | īPukapuka |
| Reo: | Pāniora |
| I whakaputaina: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2016.
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| Ngā marau: | |
| Urunga tuihono: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/86721 |
| Tags: |
Tāpirihia he Tūtohu
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