Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN

En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Martín Alfonso, Juan Antonio
Համատեղ հեղինակ: e-libro, Corp
Այլ հեղինակներ: Sánchez Colina, María (tut.), García Reina, Francisco (tut.)
Ձևաչափ: էլ․ գիրք
Լեզու:իսպաներեն
Հրապարակվել է: Ciudad de la Habana : Editorial Universitaria, 2007.
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90024
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!