Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN

En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para...

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Dades bibliogràfiques
Autor principal: Martín Alfonso, Juan Antonio
Autor corporatiu: e-libro, Corp
Altres autors: Sánchez Colina, María (tut.), García Reina, Francisco (tut.)
Format: eBook
Idioma:espanyol
Publicat: Ciudad de la Habana : Editorial Universitaria, 2007.
Matèries:
Accés en línia:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90024
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