Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN

En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para...

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Martín Alfonso, Juan Antonio
Autor Corporativo: e-libro, Corp
Outros autores: Sánchez Colina, María (tut.), García Reina, Francisco (tut.)
Formato: eBook
Idioma:Lingua castelá
Publicado: Ciudad de la Habana : Editorial Universitaria, 2007.
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Acceso en liña:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90024
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