Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN
En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para...
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| Materyal Türü: | Ekitap |
| Dil: | İspanyolca |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Ciudad de la Habana :
Editorial Universitaria,
2007.
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| Online Erişim: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90024 |
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