Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...
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|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Subjects: | |
| Online Access: | Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials |
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MARC
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| 001 | vpro11417 | ||
| 005 | 20201223000000.0 | ||
| 008 | 170402s2017 ck # g## #001 0#eng#d | ||
| 020 | |a 9789535130147 (Electrn̤ico) ; 9789535130130 (Impreso) | ||
| 022 | |||
| 040 | |a CO-BoINGC | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 245 | 1 | 0 | |a Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials |
| 246 | |a Capt̕ulo introductorio: Caracterizacin̤ de rayos X basada en sincrotrn̤ de nanomateriales | ||
| 264 | |a Bogot ̀(Colombia) : |b Revista VirtualPRO, |c 2017 | ||
| 520 | 3 | |a La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a propiedades dinm̀icas con escalas de tiempo caracters̕ticas de aproximadamente 10-16 a 103 s, son un poderoso ingrediente para explorar nanomateriales y las fronteras de Nanoescala. Desarrollar en haces y p̤tica para producir longitudes de onda / energa̕s apropiadas y sintonizables y detectar sus interacciones con la materia crean nuevas ventanas para medir los arreglos de los t̀omos (estructura) y para rastrear los movimientos de t̀omos o molčulas (dinm̀ica). La disposicin̤ de los t̀omos dentro de los objetos se puede determinar usando varias tčnicas basadas en la dispersin̤, la difraccin̤, la espectroscopia y la formacin̤ de img̀enes. Adems̀, la radiografa̕ interacciona db̌ilmente con la mayora̕ de los materiales; Es no destructivo y puede penetrar profundamente en las muestras. Tambiň puede utilizarse para estudios in situ de materiales durante el procesamiento y en condiciones reales o extremas de temperatura, presin̤ y campos magnťicos o elčtricos. | |
| 650 | \ | \ | |a Nanociencia |
| 650 | \ | \ | |a Nanotecnologa̕ |
| 650 | \ | \ | |a TecnologƯ̕a de los materiales |
| 650 | \ | \ | |a Materiales |
| 650 | \ | \ | |a Rayos X |
| 650 | \ | \ | |a Nanoscience |
| 650 | \ | \ | |a Nanotechnology |
| 650 | \ | \ | |a Materials engineering |
| 650 | \ | \ | |a Materials |
| 650 | \ | \ | |a X-ray |
| 650 | \ | \ | |a nanomateriales |
| 650 | \ | \ | |a ciencia de los materiales |
| 650 | \ | \ | |a nanomaterials |
| 650 | \ | \ | |a materials science |
| 700 | \ | \ | |a Khodaei Mehdi |
| 700 | \ | \ | |a Petaccia Luca |
| 700 | \ | \ | |a InTech. |
| 856 | |z Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials |u https://virtualpro.unach.elogim.com/biblioteca/capitulo-introductorio-caracterizacion-de-rayos-x-basada-en-sincrotron-de-nanomateriales | ||