Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials - Khodaei Mehdi; Petaccia Luca; InTech
La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a propiedades dinm̀icas con escalas de tiempo caracters̕ticas de aproximadamente 10-16 a 103 s, son un poderoso ingrediente para explorar nanomateriales y las fronteras de Nanoescala. Desarrollar en haces y p̤tica para producir longitudes de onda / energa̕s apropiadas y sintonizables y detectar sus interacciones con la materia crean nuevas ventanas para medir los arreglos de los t̀omos (estructura) y para rastrear los movimientos de t̀omos o molčulas (dinm̀ica). La disposicin̤ de los t̀omos dentro de los objetos se puede determinar usando varias tčnicas basadas en la dispersin̤, la difraccin̤, la espectroscopia y la formacin̤ de img̀enes. Adems̀, la radiografa̕ interacciona db̌ilmente con la mayora̕ de los materiales; Es no destructivo y puede penetrar profundamente en las muestras. Tambiň puede utilizarse para estudios in situ de materiales durante el procesamiento y en condiciones reales o extremas de temperatura, presin̤ y campos magnťicos o elčtricos.