Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials

La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Khodaei Mehdi, Petaccia Luca, InTech
التنسيق: كتاب
اللغة:الإنجليزية
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!