Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials

La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
অন্যান্য লেখক: Khodaei Mehdi, Petaccia Luca, InTech
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!