Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...
Uloženo v:
| Další autoři: | , , |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Témata: | |
| On-line přístup: | Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|