Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials

La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...

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Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής

Άλλοι συγγραφείς:	Khodaei Mehdi, Petaccia Luca, InTech
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	Αγγλικά
Θέματα:	Nanociencia Nanotecnologa̕ TecnologƯ̕a de los materiales Materiales Rayos X Nanoscience Nanotechnology Materials engineering Materials X-ray nanomateriales ciencia de los materiales nanomaterials materials science
Διαθέσιμο Online:	Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!