Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...
Сохранить в:
| Другие авторы: | , , |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | английский |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|