Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials

La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...

Olles dieđut

Furkejuvvon:
Bibliográfalaš dieđut
Eará dahkkit: Khodaei Mehdi, Petaccia Luca, InTech
Materiálatiipa: Girji
Giella:eaŋgalasgiella
Fáttát:
Liŋkkat:Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
Fáddágilkorat: Lasit fáddágilkoriid
Eai fáddágilkorat, Lasit vuosttaš fáddágilkora!