Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials

La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...

Повний опис

Бібліографічні деталі

Інші автори:	Khodaei Mehdi, Petaccia Luca, InTech
Формат:	Книга
Мова:	Англійська
Предмети:	Nanociencia Nanotecnologa̕ TecnologƯ̕a de los materiales Materiales Rayos X Nanoscience Nanotechnology Materials engineering Materials X-ray nanomateriales ciencia de los materiales nanomaterials materials science
Онлайн доступ:	Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!