Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

Fuld beskrivelse

Bibliografiske detaljer

Andre forfattere:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
Format:	Bog
Sprog:	engelsk
Fag:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
Online adgang:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Tags:	Tilføj Tag Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!