Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...
Guardat en:
| Altres autors: | , , , |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Matèries: | |
| Accés en línia: | Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|