Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...
Kaydedildi:
| Diğer Yazarlar: | , , , |
|---|---|
| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | İngilizce |
| Konular: | |
| Online Erişim: | Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|