Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

مؤلفون آخرون:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
التنسيق:	كتاب
اللغة:	الإنجليزية
الموضوعات:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
الوصول للمادة أونلاين:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!