Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন

অন্যান্য লেখক:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
বিন্যাস:	গ্রন্থ
ভাষা:	ইংরেজি
বিষয়গুলি:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
অনলাইন ব্যবহার করুন:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
ট্যাগগুলো:	ট্যাগ যুক্ত করুন কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!