Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής

Άλλοι συγγραφείς:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	Αγγλικά
Θέματα:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
Διαθέσιμο Online:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!