Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Այլ հեղինակներ:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
Ձևաչափ:	Գիրք
Լեզու:	անգլերեն
Խորագրեր:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
Առցանց հասանելիություն:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!