Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

Volledige beschrijving

Bibliografische gegevens

Andere auteurs:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
Formaat:	Boek
Taal:	Engels
Onderwerpen:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
Online toegang:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!