Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

Kolejni autorzy:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
Format:	Książka
Język:	angielski
Hasła przedmiotowe:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
Dostęp online:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!