Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục

Tác giả khác:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
Định dạng:	Sách
Ngôn ngữ:	Tiếng Anh
Những chủ đề:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
Truy cập trực tuyến:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!