AlN film deposition as a semiconductor device

Pelc̕ulas de AlN fueron depositados por la tčnica de deposicin̤ por ls̀er pulsado (PLD), utilizando un ls̀er Nd: YAG con una longitud de onda de 1064 nm. Las pelc̕ulas fueron depositadas en una atms̤fera de nitrg̤eno como gas de trabajo; como ct̀odo se us ̤aluminio de alta pureza (99,99%). Las pelc...

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Muut tekijät: Caicedo Julio Cesar, Přez Taborda Jaime Andrš, Chaparro Willian Aperador, Universidad Nacional de Colombia. Facultad de Ingeniera̕
Aineistotyyppi: Kirja
Kieli:englanti
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