CÆlculo de constantes ðpticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a travØs del mØtodo de Wolfe - Mesa F.; Ballesteros V.; Dussan A.; Facultad de Ciencias, Pontificia Universidad Javeriana
Se calculð la obtenciðn de las constantes ðpticas usando el mØtodo de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorciðn (Îʼ), índice de refracciðn (n) y espesor de una película delgada (d ), son de importancia en el proceso de caracterizaciðn ðptica del material. Se realizð una comparaciðn del mØtodo del Wolfe con el mØtodo empleado por R. Swanepoel. Se desarrollð un modelo de programaciðn no lineal con restricciones, de manera que fue posible estimar las constantes ðpticas de películas delgadas semiconductoras, a partir œnicamente, de datos de transmisiðn conocidos. Se presentð una soluciðn al modelo de programaciðn no lineal para programaciðn cuadrÆtica. Se demostrð la confiabilidad del mØtodo propuesto, obteniendo valores de Îʼ = 10378.34 cmĐ1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev, a travØs de experimentos numØricos con datos de medidas de transmitancia espectral en películas delgadas de Cu3BiS3.