CÆlculo de constantes ðpticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a travØs del mØtodo de Wolfe
Se calculð la obtenciðn de las constantes ðpticas usando el mØtodo de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorciðn (Îʼ), índice de refracciðn (n) y espesor de una película delgada (d ), son de importancia en el proceso de caracterizaciðn ðptica del material. Se realizð una comparaciðn del mØtod...
Сохранить в:
| Другие авторы: | Mesa F., Ballesteros V., Dussan A., Facultad de Ciencias, Pontificia Universidad Javeriana |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | испанский |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | CÆlculo de constantes ðpticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a travØs del mØtodo de Wolfe |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Схожие документы
-
Tom Wolfe : cronista de la Norteamérica sin Dios /
по: Trillo, Juan F.
Опубликовано: (2016) - Hall effect and transient surface photovoltage (SPV) study of Cu3BiS3 thin films
-
DISEÑO E IMPLEMENTACIÓN DE UNA APLICACIÓN BI PARA SOLUCIONAR EL PROBLEMA DE REPORTABILIDAD ACADÉMICA EN LA UNIVERSIDAD ADVENTISTA DE CHILE.
по: Pérez Sánchez, Samuel Andrés
Опубликовано: (2020) -
Power BI : curso práctico /
по: Carrasco Gómez, Francisco José
Опубликовано: (2024) -
Symfony 3 : Desarrolle sitios web PHP estructurados y con buen rendimiento /
по: Amarni, Bilal
Опубликовано: (2019)