CÆlculo de constantes ðpticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a travØs del mØtodo de Wolfe
Se calculð la obtenciðn de las constantes ðpticas usando el mØtodo de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorciðn (Îʼ), índice de refracciðn (n) y espesor de una película delgada (d ), son de importancia en el proceso de caracterizaciðn ðptica del material. Se realizð una comparaciðn del mØtod...
Enregistré dans:
| Autres auteurs: | Mesa F., Ballesteros V., Dussan A., Facultad de Ciencias, Pontificia Universidad Javeriana |
|---|---|
| Format: | Livre |
| Langue: | espagnol |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | CÆlculo de constantes ðpticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a travØs del mØtodo de Wolfe |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires
-
Tom Wolfe : cronista de la Norteamérica sin Dios /
par: Trillo, Juan F.
Publié: (2016) - Hall effect and transient surface photovoltage (SPV) study of Cu3BiS3 thin films
-
DISEÑO E IMPLEMENTACIÓN DE UNA APLICACIÓN BI PARA SOLUCIONAR EL PROBLEMA DE REPORTABILIDAD ACADÉMICA EN LA UNIVERSIDAD ADVENTISTA DE CHILE.
par: Pérez Sánchez, Samuel Andrés
Publié: (2020) -
Estilos de Enseñanza en NB3
par: Caro Isla, Alejandro...[et al]
Publié: (2000) -
Symfony 3 : Desarrolle sitios web PHP estructurados y con buen rendimiento /
par: Amarni, Bilal
Publié: (2019)