CÆlculo de constantes ðpticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a travØs del mØtodo de Wolfe
Se calculð la obtenciðn de las constantes ðpticas usando el mØtodo de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorciðn (Îʼ), índice de refracciðn (n) y espesor de una película delgada (d ), son de importancia en el proceso de caracterizaciðn ðptica del material. Se realizð una comparaciðn del mØtod...
שמור ב:
| מחברים אחרים: | Mesa F., Ballesteros V., Dussan A., Facultad de Ciencias, Pontificia Universidad Javeriana |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | ספרדית |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | CÆlculo de constantes ðpticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a travØs del mØtodo de Wolfe |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
Tom Wolfe : cronista de la Norteamérica sin Dios /
מאת: Trillo, Juan F.
יצא לאור: (2016) - Hall effect and transient surface photovoltage (SPV) study of Cu3BiS3 thin films
-
DISEÑO E IMPLEMENTACIÓN DE UNA APLICACIÓN BI PARA SOLUCIONAR EL PROBLEMA DE REPORTABILIDAD ACADÉMICA EN LA UNIVERSIDAD ADVENTISTA DE CHILE.
מאת: Pérez Sánchez, Samuel Andrés
יצא לאור: (2020) -
Power BI : curso práctico /
מאת: Carrasco Gómez, Francisco José
יצא לאור: (2024) -
Estilos de Enseñanza en NB3
מאת: Caro Isla, Alejandro...[et al]
יצא לאור: (2000)