Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope
Los microscopios electrn̤icos de barrido ambiental ofrecen amplias posibilidades para la exploracin̤ de varios tipos de muestras, especialmente muestras no conductoras y hm͠edas que contienen diferentes fases de material. La evaluacin̤ de la presin̤ en la trayectoria de los electrones secundarios es...
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| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | 英語 |
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope |
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