Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope

Los microscopios electrn̤icos de barrido ambiental ofrecen amplias posibilidades para la exploracin̤ de varios tipos de muestras, especialmente muestras no conductoras y hm͠edas que contienen diferentes fases de material. La evaluacin̤ de la presin̤ en la trayectoria de los electrones secundarios es...

Whakaahuatanga katoa

I tiakina i:
Ngā taipitopito rārangi puna kōrero
Ētahi atu kaituhi: Hladk ̀K, Jirk̀ J., Maxa J., Neděla V., Vyroubal P., University of Defence
Hōputu: Pukapuka
Reo:Ingarihi
Ngā marau:
Urunga tuihono:Apertures with Laval Nozzle and Circular Orifice in Secondary Electron Detector for Environmental Scanning Electron Microscope
Tags: Tāpirihia he Tūtohu
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