Determinacin̤ del comportamiento bajo cargas concentradas de perfiles de lm̀ina delgada ( MM )
<U+00BF>En el campo de la lm̀ina delgada continuamente aparecen nuevos tipos de perfiles que son desarrollados con el objeto de mejorar los ya existentes. Un ejemplo de esto es la aparicin̤ del perfil M, elaborado para mejorar la eficiencia a corte del perfil C y su resistencia al arrugamiento del alma por efecto de cargas concentradas. Ter̤icamente, se logra el objetivo de mejorar la resistencia a corte del perfil C y de algn͠ modo su resistencia al arrugamiento del alma, pero debido a los dobleces generados en el alma (rigidizadores intermedios) para acortar la longitud de pandeo, se producen comportamientos que desde el punto de vista de esfuerzos por flexin̤ y deflexiones no pueden ser analizados con los fundamentos ter̤icos de la mecǹica tradicional. Este comportamiento se ve acentuado con la presencia de cargas concentradas. Por la razn̤ expuesta anteriormente, a parte de la determinacin̤ de la resistencia ter̤ica del perfil M (basada en el AISI 1996), se desarrollan pruebas sobre cuatro modelos de los que se obtienen tp̤icos como: carga mx̀ima resistida, identificacin̤ visual del posible tipo de falla, deflexiones (centro de la luz) y deformaciones unitarias (εx, εy, εxy, y adicionalmente se elaboran modelos matemt̀icos simplificados y por elementos finitos (en el programa COSMOS/M), con el fin de hacer una revisin̤ detallada del comportamiento de los esfuerzos y deformaciones en el perfil. La calibracin̤ de estos modelos se lleva a cabo con base en los resultados obtenidos de los ensayos. De otra parte, se hacen pruebas cc̕licas balo cargas pseudoestt̀icas, con el objeto de estudiar el comportamiento histerťico del perfil MM, con y sin rigidizadores.